詳細摘要： 場發射掃描電鏡semiron5000是高分辨率FE-SEM掃描電鏡,也是肖特基型高分辨率FE-SEM,采用65錐形物鏡，專為大樣本檢測而*化-無限制分析附件的短...
產品型號：FPSER-Semiron5000所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言孚光精儀（中國）有限公司
孚光精儀（中國）有限公司
詳細摘要： 場發射掃描電鏡semiron5000是高分辨率FE-SEM掃描電鏡,也是肖特基型高分辨率FE-SEM,采用65錐形物鏡，專為大樣本檢測而*化-無限制分析附件的短...
產品型號：FPSER-Semiron5000所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 高分辨率掃描電鏡AIS2500C配備了LaB6，以便獲得高分辨率掃描電鏡SEM圖像
產品型號：FPSER-AIS2500C所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 科研級SEM電鏡采用小型掃描電鏡結構設計，適合高校等科研院所獲得SEM圖像,放大倍率為20-30000X,可在辦公室使用
產品型號：FPSER-Ais2000C所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 科研級掃描電鏡采用小型SEM結構設計，適合高校等科研院所SEM圖像采集,放大倍率為20-20000X,可在辦公室使用
產品型號：FPSER-Ais1800c所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 桌面型掃描電鏡是結構緊湊的微型SEM,桌面型的掃描電鏡結構使得它非常適合各種SEM圖像獲取應用
產品型號：FPSER-AURA200所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 平面度和應力測試儀可非接觸式測量各種反射硅片和玻璃表面平面度、波紋度和薄膜應力,廣泛用于晶圓硅片、反射鏡、金屬表面或拋光聚合物
產品型號：FPOEG-Flatscan所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 晶圓金剛石劃片機MR200為結構化硅片的限定切割和高精度劃線而設計,特別適合半導體行業中的REM制備,還適用于實驗室對芯片單體化劃片或切割
產品型號：FPOEG-MR200所在地：更新時間：2024-05-05 在線留言
詳細摘要： 電子自準直儀是電子準直的自動準直儀器,具有電控內焦功能.電子自準直儀EFAM是具有電動內部聚焦功能的準直自準直儀,使用相機和圖像處理系統來記錄測量值
產品型號：FPOEG-EFAM所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
詳細摘要： 紅外自準直儀是專門為1550nm波長設計的電子紅外自動準直儀器,具有電子圖像評估功能和1弧秒的精度
產品型號：FPOEG-EAC500所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
詳細摘要： 光學鏡頭測量儀是為光學鏡頭和光學模組分析測試設計的光學鏡頭分析測試儀器,滿足鏡頭經典光學參數的測量系統,如EFL（焦距）（正/負）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
產品型號：FPOEG-OTS200所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
詳細摘要： 顯微光學傳遞函數分析儀MTFMicro是為極短焦距的微光學元件設計的光學傳遞函數測試儀器,它在5個像場點和焦點測量MTF切向和矢狀
產品型號：FPOEG-MTFmicro所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
詳細摘要： 高精度光學傳遞函數測量儀是六軸電動MTF測試儀器,軟件控制MTF測試分析,滿足有限/有限對象/圖像共軛光學測量應用
產品型號：FPOEG-Master2000所在地：更新時間：2024-05-04 在線留言
詳細摘要： 12英寸晶圓輪廓儀是為半導體晶圓形貌測量設計的多功能晶圓形貌儀器，集成光學傳感器,實現無接觸地測量樣本
產品型號：FPALT-altisurf530所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
詳細摘要： 這款三維表面輪廓儀是進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓表面...
產品型號：FPALT-altisurf520所在地：更新時間：2024-05-03 在線留言
詳細摘要： 微型臺式掃描電鏡是結構緊湊的科研SEM,桌面型的掃描電鏡購置使得它非常適合各種SEM圖像獲取應用
產品型號：FPSER-AURA100所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 電鏡原位等離子體清潔器EM-KLEEN可用于電子顯微鏡和分析儀器（如SEM、FIB、TEM、XPS和SIMS）的樣品和真空室的原位清潔
產品型號：FPPIE-EM-KLEEN所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 四探針方塊電阻測量儀是為SheetResistivity薄層電阻率測量設計的四點探針電阻測量儀器,滿足各種材料的薄層電阻率測量,包括IV族半導體、金屬和化合物半...
產品型號：FPTOH-4PP所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言
詳細摘要： 薄膜測厚儀TohoSpec3100是高精度薄膜厚度測量系統,采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、...
產品型號：FPTOH-TOHOSPEC3100所在地：更新時間：2023-09-12 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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